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菲希爾X射線測厚儀XDL210

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菲希爾X射線測厚儀XDL210，菲希爾代理，F(xiàn)ISCHER代理，F(xiàn)ISCHER X射線鍍層測厚儀

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菲希爾X射線測厚儀XDL210的詳細資料：

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL210/220/230/240特別適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

• 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻

• 測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

• 測量印刷線路板

• 分析電鍍?nèi)芤?/p>

菲希爾X射線測厚儀XDL210

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